CSK-IA和CSK-IB试块的主要用途

  1)利用厚度25mm测定探伤仪的水平线性、垂直线性和动态范围；
  2)利用厚度25mm和高度100mm调整纵波探测范围；
  3)利用R50和R100校定时基线或测定斜探头的入射点；
  4)利用高度85、91、100ram测定直探头的分辨力；
  5)利用中40、中44、中50ram曲面测定斜探头的分辨力；
  6)利用中50有机玻璃圆孔测定直探头盲区和穿透能力；
  7)利用中50曲面和巾1．5横孔测定斜探头的K值；
  8)利用高度9lmm(纵波声程9lmm相当于横波50mm)调节横波1：1扫描速度，配合R100作零位校正；
  9)、利用试块直角棱边测定斜探头的声轴偏斜角。